Hjem > Nyheder > Indhold

Tillykke til NANO tekniske konference afholdt med succes

Nano (Xi'an) metrologi Co., Ltd | Updated: Nov 14, 2016
Source:

NANO metrologi afholdt den tekniske konference på 9thNov. med succes. Mere end 150 personer deltage i konferencen. Fulgt er hovedselskab navneliste.

Air Kina magt CorpKlinge Center
Måling CenterKvalitetsafdelingen
KontroltjenestePlads måling
Fareast gruppeKeian gruppe


Log på

Bussiness Manager at indføre NANO udvikling

measuring machine

Ingeniør fra Renishaw at indføre sonde

high accuracy measuring equipment renishaw probe head system

Ingeniør fra til eksterne-Array indføre RationalDMIS og Modus SW

 practice measuring solutionsbridge type CMM

Tekniske udveksling

 gantry type coordinate measuring machine

 gear center arm measuring machine


Oplys venligst os, hvis der er spørgsmål eller rådgivning

E-mail:Overseas@CMM-Nano.com

Undersøgelse
Your comments are welcome!
For more information about our brand and products, please feel free to contact us!
Please enter your email address:
Kontakt os
Address: No.55, Gongye No.2 Road, Xi'an National Civil Aerospace Base, Xian City, Shaanxi-provinsen, Kina
Tel: +862981538937
Fax: +862989233633
E-mail: overseas@cmm-nano.com
Copyright © Nano (Xi'an) Metrologi Co, Ltd Alle rettigheder forbeholdes.